共通機器のご利用について About Usage of Common Equipments
お知らせ Information
共通機器室の機器を利用する際には、共通機器室利用登録申請を行い、本サイトから機器の予約を行ってください。機器を利用した際には、機器に備え付けてある使用簿に必要事項を記載してください。
教員が管理する共通機器を利用する際には、管理教員と連絡調整の上使用してください。

○機器一覧料金表、規程、様式、注意事項等 List of Equipments, Fee, Registration form, Regurations, etc.

○ポータルサイト利用マニュアル How to Use the Portal Site for Common Equipments

○研究機器マップ[学内限定] Map of Research Equipments [Only For Univ. Members]

問い合わせ先:産学連携センター共同利用設備ステーション
Contacts:Station for Management of Common Equipments
TEL:0155-49-5342、5311
FAX:0155-49-5289
E-mail:kyotukiki@obihiro.ac.jp
2024/07/08 3号館 吸光マイクロプレートリーダー(32017001)利用再開のお知らせ
2024/06/21 【7月10日(水)、11日(木)】「SONY Cell Sorter SH800S」オンライン説明会(ご案内)
2024/06/18 共通機器の利用料変更について(通知)
2024/04/01 謝辞について
2024/04/01 共通機器利用者説明会(動画)のご案内

共通機器検索 Equipment Search

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機器一覧 Equipment List

画像機器名 Equipment機器分類 Category型式 Model説明 Detail設置場所 Location管理責任者 Equipment Manager
K2014007蛍光位相差顕微鏡.png倒立蛍光位相差顕微鏡(K2014007)顕微鏡ライカ DMI3000B-F1、BHC4-1080A光の回折、干渉という2つの性質を利用し、明暗のコントラストにより無色透明な標本を可視化するという観察が可能な顕微鏡Ⅰ号館 3階 S3101室村西 由紀(muranishi)
K2015011.jpg蒸気圧法オズモメーター(K2015011)その他Wescor 5600晶質浸透圧を短時間で簡単に測定する装置Ⅰ号館 1階 S1113室石川 透(torui)
K2015007.jpg落射蛍光顕微鏡他一式(K2015007)顕微鏡オリンパス BX53-33-FL-2,顕微鏡デジタルカメラ(DP72-SET-A-2)生体または非生体試料からの蛍光・燐光現象を観察することによって、対象を観察する蛍光顕微鏡、落射照明(同軸照明)で励起光を照射Ⅲ号館 5階 512室福田 健二(fuku)
K2015005.jpg生細胞応答・構造スキャニング装置(K2015005)顕微鏡ニコン 共焦点レーザー顕微鏡システム:C2(パソコン30インチワイドモニター付)高解像度のイメージと三次元情報の再構築が可能な顕微鏡、共焦点レーザー顕微鏡他Ⅰ号館 2階 S2113室室井 喜景(muroi)
K2015004.jpgモジュール式マルチグレーティングマイクロプレートリーダ(K2015004)光分析装置コロナ電気 SH-9000Lab(A・CL)物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられ、マイクロプレートに入れた多数のサンプル(主として液体)の光学的性質を測定する機器Ⅰ号館 2階 S2117室相川 知宏(caikawa)
K2015003.jpgルミノ・イメージアナライザー(K2015003)撮影装置富士写真フィルム LAS-3000ウエスタンブロットなどの蛍光撮影装置Ⅳ号館 2階 213室小川 晴子(hogawa)
K2015002.jpgDNAシーケンサシステム(K2015002)シークエンサーApplied Biosystems3500DNAを構成するヌクレオチドの結合順序(塩基配列)を決定する機器、8本キャピラリーⅣ号館 2階 212室小川 晴子(hogawa)
K2015001.jpgマイクロプレートリーダ(K2015001)光分析装置テカン ジェニオスプロ-4物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられ、マイクロプレートに入れた多数のサンプル(主として液体)の光学的性質を測定する機器、インジェクター付き、蛍光、TRF、吸光、グロー発光及びフラッシュ発光測定用。Ⅳ号館 2階 213室小川 晴子(hogawa)
K2014005.jpg走査型電子顕微鏡(K2014005)電子顕微鏡日立 S3400N 他電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する電子顕微鏡Ⅰ号館 1階 W1406室佐々木 基樹(sasakim)
K2014004.jpgデジタル式透過型電子顕微鏡(K2014004)電子顕微鏡日立 HT7700 他観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡Ⅰ号館 1階 W1408室佐々木 基樹(sasakim)