共通機器のご利用について About Usage of Common Equipments
お知らせ Information
共通機器室の機器を利用する際には、共通機器室利用登録申請を行い、本サイトから機器の予約を行ってください。機器を利用した際には、機器に備え付けてある使用簿に必要事項を記載してください。
教員が管理する共通機器を利用する際には、管理教員と連絡調整の上使用してください。

○機器一覧料金表、規程、様式、注意事項等 List of Equipments, Fee, Registration form, Regurations, etc.

○ポータルサイト利用マニュアル How to Use the Portal Site for Common Equipments

○研究機器マップ[学内限定] Map of Research Equipments [Only For Univ. Members]

問い合わせ先:産学連携センター共同利用設備ステーション
Contacts:Station for Management of Common Equipments
TEL:0155-49-5342、5311
FAX:0155-49-5289
E-mail:kyotukiki@obihiro.ac.jp
2025/01/24 新規登録機器のお知らせ
2024/10/18 共用設備・機器を利用した際の謝辞明記について(依頼)
2024/04/01 共通機器利用者説明会(動画)のご案内
2024/04/01 共通機器室利用上の注意事項について
2024/04/01 機器予約に関しての注意

共通機器検索 Equipment Search

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機器一覧 Equipment List

画像機器名 Equipment機器分類 Category型式 Model説明 Detail設置場所 Location管理責任者 Equipment Manager
2014049.jpg小型卓上紫外線照射装置(K2020004)撮影装置アトー TPB-20LCP電気泳動したDNAなどの撮影に使う紫外線照射と撮影装置Ⅰ号館 3階 S3102-1室後藤 達彦(tats.goto)
K2014007蛍光位相差顕微鏡.png倒立蛍光位相差顕微鏡(K2014007)顕微鏡ライカ DMI3000B-F1、BHC4-1080A光の回折、干渉という2つの性質を利用し、明暗のコントラストにより無色透明な標本を可視化するという観察が可能な顕微鏡Ⅰ号館 3階 S3101室村西 由紀(muranishi)
K2015004.jpgモジュール式マルチグレーティングマイクロプレートリーダ(K2015004)光分析装置コロナ電気 SH-9000Lab(A・CL)物理学・化学・生物学の実験や検査などで広く用いられ、マイクロプレートに入れた多数のサンプル(主として液体)の光学的性質を測定する機器Ⅰ号館 2階 S2117室相川 知宏(caikawa)
K2015005.jpg生細胞応答・構造スキャニング装置(K2015005)顕微鏡ニコン 共焦点レーザー顕微鏡システム:C2(パソコン30インチワイドモニター付)高解像度のイメージと三次元情報の再構築が可能な顕微鏡、共焦点レーザー顕微鏡他Ⅰ号館 2階 S2113室室井 喜景(muroi)
K2021003_BD Accuri.jpgフローサイトメーター(K2021003)細胞解析ベクトン・ディッキンソン社 BD Accuri C6 サンプラー付き操作・メンテナンスが簡単なパーソナル型フローサイトメーターⅠ号館 2階 S2102室産学連携センター共同利用設備ステーション長(kyotusys)
2019002.JPGPCRプレートシーラー(K2020002)標本作製バイオラッド PX1ヒートシールフィルムやホイールなど幅広いPCRプレートに対応 簡単にヒートシーリング温度、時間を変更可能Ⅰ号館 2階 N2301-1室宮本 明夫(akiomiya)
2023001全自動製氷機.jpg全自動製氷機(2023001)その他ホシザキ フレークアイスメーカーFM-120K-50(アンダーカウンタータイプ)120kg製氷機Ⅰ号館 1階 エレベーター横産学連携センター共同利用設備ステーション長(kyotusys)
DSC02896.JPGデジタル式透過型電子顕微鏡 HT7800電子顕微鏡HT7800観察対象に電子線をあて、透過してきた電子線の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡Ⅰ号館 1階 W1408室佐々木 基樹(sasakim)
2022004_ウルトラミクロトーム.pngウルトラミクロトーム(2022004)標本作製ライカEM UC7i光学顕微鏡で用いる準超薄切片、TEMで用いる高品質な超薄切片、さらにSEM、あるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製に活用できます。タッチパネル式コントロールユニットで操作することができます。Ⅰ号館 1階 W1407室近藤 大輔(kondoh-d)
K2014005.jpg走査型電子顕微鏡(K2014005)電子顕微鏡日立 S3400N 他電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子(後方散乱電子、BSE)、透過電子、X線、カソードルミネッセンス(蛍光)、内部起電力等を検出する事で対象を観察する電子顕微鏡Ⅰ号館 1階 W1406室佐々木 基樹(sasakim)